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スルーホール検査装置
VIP シリーズ スルーホール検査装置。
ファインスルーホールを高速、高精度でパーフェクトスキャン。
製品概要
ファインスルーホールを高速、高精度でパーフェクトスキャン。VIPシリーズ
特長
- ピンホール、微少穴、高密度スルーホールのパーフェクトチェック。（検査条件により、マルチカメラ、分割取り込み等対応可能）
- 複数種のスルーホールを、並列処理により高速判定。
- 検査データをファイル登録可能で、品種換え時の素早い対応。
- 不良穴位置のズーム拡大表示を標準装備し、不良穴のリペアーが可能。
- 直径換算機能により、穴直径の公差による判定ができます。
- 良品基板マスター比較検査に加え、ＣＡＤデータをマスターにしての検査が可能。
用途
- 半導体セラミック・パッケージ用グリーンシートのビアホール検査。
- アルミナ・サブストレート、グリーンシートのビアホール検査。
- メタルマスク、リードフレームなどの薄板検査。
- レーザー、エッチング、メッキ法加工などによる金属板の極小穴検査。
- ＰＧＡ、ＢＧＡ、ＣＳＰ、ＦＣＰなどの電子基板の各種検査
画面
| 検査ファイル、ＣＡＤデ－タ管理 | ＣＡＤデ－タ画像表示 |
|---|---|
検査ファイルの登録、読み出し、ＣＡＤデ－タファイルの読み込みが簡単にできます。 |
マスター用ＣＡＤデ－タは、検査画面上にて、表示されます。穴コードごと色分けされて表示します。 |
| オシロスコープ機能 | 検査ワーク形状表示機能 |
カメラ信号がそのままＣＲＴに表示でき、カメラのピント |
得られたデータを、ＣＲＴに表示します。拡大縮小も、自由にできます。 |
| 検査画面 | 穴情報グラフ表示、条件設定機能 |
検査画像、検査グラフ、ＣＡＤ画像、検査結果が全て同一画面上にリアルタイムに表示されます。 |
得られた穴情報は、穴コードごと色分けされて表示されます。検査範囲は、グラフ上の任意の面積ポイントをクリックするだけで登録可能です。 |
| ＮＧ孔ロケーション | |
ＣＡＤデ－タ座標を元にＮＧ個所を一発表示します。 |
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関連機器
セラミック基板自動寸法分類機 |
スルーホール検査装置 ＸＹタイプ |
スルーホール検査装置 XCCD タイプ |
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